Test equipment

Test equipment

Industry: Semiconductori

Adăugare termen nou

Contributors in Echipament testare

Become a Contributors

Test equipment

X.25

Semiconductori; Echipament testare

Un standard de CCIT care descrie modul în care gestionează o reţea de pachete de trecut date.

modul de transfer asincron (ATM)

Semiconductori; Echipament testare

O rapidă de pachete comutare tehnologie care utilizează asincron timp-Divizia multiplexare.

Dicţionar de vina

Semiconductori; Echipament testare

Un dicţionar de vina conţine aceleaşi informaţii conţinute într-o listă de vina, dar includ informaţii despre cum vina se manifestă în locaţia de eroare şi efectul acesteia asupra dispozitivelor ...

vina ne-observabil

Semiconductori; Echipament testare

Un defect este considerat non-observabilă în cazul în care efectele sale nu poate fi măsurată la orice ieşire de reţea.

test de caietul de sarcini

Semiconductori; Echipament testare

Un document definirea parametrilor operaționali unui dispozitiv.

site-ul

Semiconductori; Echipament testare

O poziţie DUT pe un cap de testare cu mai mult de o astfel de poziţie.

aliasul frecvenţă

Semiconductori; Echipament testare

O componentă jos-frecvenței fals care apare în date analogice, care este reconstruit la datele originale digitalizate la o rată de eşantionare insuficient de mare.