Test equipment

Test equipment

Industry: Semiconductori

Adăugare termen nou

Contributors in Echipament testare

Become a Contributors

Test equipment

vina parametrice

Semiconductori; Echipament testare

Orice vina cauzate de o variaţie parametrice sau proces în afara de toleranţă sau valorile nominale este numit un fault moale.

subpixel rezoluţie

Semiconductori; Echipament testare

Orice tehnica de imagistica, care poate genera o măsurare cu o rezoluţie spaţială mai mici de 1 pixel.

Orice mecanism pentru izolarea un core intrări din circuitele din jur, astfel încât nucleul ignoră complet aceste intrări. Acest lucru poate fi util în timp ce testez circuitele înconjurătoare pentru ...

izolarea de ieşire

Semiconductori; Echipament testare

Orice mecanism pentru izolarea un core ieşiri din circuitele din jur, astfel încât şi circuitele din jur pot fi testate fără dispută din miezuri nu supus încercării.